High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

NOK 1 399,00
+ NOK 224,49 i frakt

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

Solgt av:
  • product image

NOK 1 399,00

På lager
+ NOK 224,49 i frakt

14-dagers returpolicy

Betalingsmåter:

Produktdetaljer

Produktdetaljer

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

The Rapid Growth In The Applications Of Electronic Materials Has Created An Increasing Demand For Reliable Techniques For Examining And Characterizing These Materials. This Book Explores The Area Of X-ray Diffraction And The Techniques Available For Deployment In Research, Development, And Production. It Maps The Theoretical And Practical Background Necessary To Study Single Crystal Materials Using High Resolution X-ray Diffraction And Topography.
  • Fruugo-ID: 550920494-1115598663
  • ISBN: 9780367400637
Levering

Leveranse

Sendes i løpet av 24 timer

  • STANDARD: NOK 224,49 - Levering mellom kl fre. 20 november 2026–tir. 24 november 2026

Sendes fra Storbritannia.

Retur

Retur

Vi gjør vårt beste for å sikre at produktene du bestiller, leveres til deg i sin helhet og i samsvar med dine spesifikasjoner. Skulle du likevel motta en ufullstendig bestilling eller andre varer enn dem du bestilte, eller hvis du av en eller annen grunn ikke er fornøyd med bestillingen, kan du returnere bestillingen eller enkeltvarer i bestillingen og motta full refusjon for varene.

Se fullstendige retningslinjer for retur